陕西兴源科技开发有限公司

颗粒碰撞噪声测试仪(PIND)

用于电子元器件封装后,对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验,目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子,是一种非破坏性实验.

1．检测仪适用范围：用于检测集成电路、晶体管、电容器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒，即PIND试验。

2．颗粒碰撞检测仪主要技术性能指标符合标准：GJB-548A微电子器件试验方法方法2020，GJB-128A半导体分立器件试验方法方法2052。

主要型号有:4511A

4511L 4511L-R

4511M 4511M-R

专用耗材:专用胶片胶水